PL（光致發(fā)光）檢測(cè)

      PL光致發(fā)光原理：利用特定波長的激光作為激發(fā)光源，提供一定能量的光子，硅片中的基態(tài)電子在吸收這些光子后進(jìn)入激發(fā)態(tài)，釋放波峰在1150nm左右的近紅外光，

然后利用高光譜高分辨率的相機(jī)進(jìn)行感光、成像。成像后光強(qiáng)與對(duì)應(yīng)位置非平衡少數(shù)載流子濃度成正比，由于缺陷會(huì)導(dǎo)致該區(qū)域的少數(shù)載流子濃度減小從而削弱其熒光效應(yīng)，

成像后則表現(xiàn)為暗色的點(diǎn)、線或一定區(qū)域，故可通過光致發(fā)光來判斷樣片是否存在缺陷，雜質(zhì)等等最終影響電池效率。

檢測(cè)范圍：硅錠、硅片、工藝過程片、太陽能電池片、組件產(chǎn)品。

過程位置：在串焊、疊瓦之后或者組件成品之后。通常也會(huì)根據(jù)客戶的需求來搭配安裝，安裝在成品電池片出來后、或者串焊上料前。

同時(shí)可以安裝適應(yīng)行業(yè)硅片、硅錠檢測(cè)。

優(yōu)點(diǎn)：無接觸，不易產(chǎn)生二次缺陷；檢測(cè)效率高。

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